Hallo Herr Kuppler,

eine wirkliche Lösung haben wir leider auch nicht, nur einen anderen Weg - mit anderen Problemen.

Aus vermutlich exakt den gleichen Gründen wie sie, nämlich weil die Prüfabteilung eine Zuordnung von physikalischen Testpunkten des InCircuit-Testers und des Schaltplans fordert, werden bei uns Testpunkte wie reale Bauteile behandelt.

D.h. Testpunktsymbole im SPL einfügen, Testpunkte wie Bauteile platzieren, routen, etc... Auch nicht gerade elegant, aber dafür ist der Bezug zwischen SPL und EK immer korrekt.

Was mich nachdenklich stimmt, ist daß wir beiden scheinbar die einzigen weltweit sind, die dieses Problem haben.

Bei allen anderen Firmen mit denen ich über dieses Thema diskutiert habe, ist es überhaupt nicht erforderlich für den ICT die TP-Zuordnung im SPL anzugeben.

Bei einem Funktionstest schaut dies natürlich anderst aus, aber dort haben wir auch nicht mehrere hundert Testpunkte.

Ein Lösungsansatz um die Testpunkte im SPL los zu werden könnte sein im Prüffeld den visECad Viewer einzuführen, mit diesem sind die Querverweise zwischen EK und SPL implizit vorhanden.

Diesen Ansatz prüfen wir derzeit, aber aufgrund der (wohl typischen) konservativen Einstellung wird dies sicherlich einige Überzeugungsarbeit und Zeit erfordern.

Beim längeren drüber Nachdenken ist Ihr Ansatz gar nicht so schlecht.

Ich nehme mal an, daß Sie mit Ihrer Methode die original Expedition TP-Funktionen vollständig nutzen können.

Eventuell könnte man mit einigen Stunden Programmieraufwand ihre "TP-Symbole" über Automation generieren und auch automatisiert verifizieren und updaten.

Falls wir mit visECad nicht weiterkommen - was ich nicht hoffe - könnte man das mal aufgreifen.

Ich wünsche Ihnen ein schönes Wochendene

Dirk Eyfrig